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TH2826型LCR数字电桥
TH2826型LCR数字电桥
型    号:
所属分类:LCR电桥
报    价:
更新时间:2018-05-07

性能特点
■ *台符合LXI标准的LCR表
■ 测试频率20Hz~5MHz,10mHz步进
■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进
■ 基本准确度0.1%
■ Z高达200次/s的测量速度
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流

TH2826型LCR数字电桥产品概述:

简要介绍

■ TH2826系列元件测试仪是*台符合LXI标准的新一代阻抗测试仪器,其0.1%的基本精度、20Hz~5MHz的频率范围可以满足元件与材料绝大部分低压参数的测量要求,可广泛应用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析及低ESR电容器和高Q电感器的测量。

■ TH2826系列产品超高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机,压电器件的频率响应曲线分析等等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。

■ TH2826系列产品以其的性能可以实现商业标准和标准如IEC和MIL标准的各种测试。

 

广泛的测量对象

无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性


技术参数

测试参数

C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率

TH2826

20 Hz~5MHz,10mHz步进

测试信号电

f≤1MHz

10mV~5V,±(10%+10mV)

f>1MHz

10mV~1V,±(20%+10mV)

输出阻抗

10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度

0.1%

 

L

0.0001 uH ~ 9.9999kH

 

C

0.0001 pF ~ 9.9999F

 

R,X,Z,DCR

0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ

显示范围

Y, B, G

0.0001 nS ~ 99.999 S

 

D

0.0001 ~ 9.9999

 

Q

0.0001 ~ 99999

 

θ

-179.99°~ 179.99°

测量速度

快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能

开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准

等效方式

串联方式, 并联方式

量程方式

自动, 保持

显示方式

直读, Δ, Δ%

触发方式

内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏

电压模式

-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源

电流模式(内阻为50Ω)

-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能

10档分选及计数功能

显示器

320×240点阵图形LCD显示

存储器

可保存20组仪器设定值

 

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

 

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口

LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

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